Renesas entwickelt 28-nm-MCU mit virtualisierungsunterstützten Funktionen

Renesas Electronics kündigte die Entwicklung und erfolgreiche Funktionsüberprüfung eines Automotive-Testchips als technologischen Sprungbrett zur Realisierung von Automotive-Control-Flash-MCUs der nächsten Generation mit einem 28-nm-Low-Power-Prozess an.

Der Mikrocontroller verfügt über vier 600-MHz-CPUs mit Lock-Step-Mechanismus und großen 16 MB Flash-Speicherkapazität sowie virtualisierungsunterstützte Funktionen, die eine MCU-Virtualisierung ermöglichen:Diese Technologie ermöglicht es, dass mehrere Softwarekomponenten auf einer einzigen MCU laufen, ohne sich gegenseitig zu stören, und erfüllt damit die Anforderungen von ASIL D, dem höchsten automobilen Sicherheitsintegritätslevel, spezifiziert nach der Norm ISO 26262 für funktionale Sicherheit für Straßenfahrzeuge. Dank einer neu entwickelten Standby-Resume-BIST (SR-BIST)-Funktion, die während der Standby-Resume-Periode ausgeführt wird, sind verbesserte integrierte Selbsttest-(BIST)-Funktionalität für die MCU-Selbstdiagnose-Fehlererkennung erforderlich, um ASIL D zu implementieren . Die MCU bietet auch erweiterte Netzwerkfunktionen, einschließlich einer Gigabit-Ethernet-Schnittstelle für die Hochgeschwindigkeitsübertragung von Sensorinformationen.

Renesas wird die Testergebnisse in der Sitzung „A 28nm 600MHz Automotive Flash Microcontroller with Virtualization-Assisted Processor for Next-Generation Automotive Architecture Complying with ISO26262 ASIL D“ am 18. Februar auf der International Solid-State Circuits Conference 2019 vorstellen.

Basierend auf den im Testchip verifizierten Technologien plant Renesas, aggressiv neue 28-nm-Flash-MCUs zu entwickeln und sein Engagement fortzusetzen, eine neue Generation umweltfreundlicher und autonom fahrender Autos zu ermöglichen und zu einem sichereren und sichereren Fahrerlebnis beizutragen.