Renesas launcht 28 nm Automotive MCU mit Virtualization-Assisted Safety Features
Renesas Electronics hat die erfolgreiche Verifikation eines hochmodernen Automotive Test Chips angekündigt – ebnet Weg für Next-Gen Flash Mikrocontroller auf 28 nm Low-Power Prozess.
Prototype Specs
Der Prototyp-Mikrocontroller bietet vier 600 MHz Kerne in Lockstep-Konfiguration, großzügige 16 MB Flash Memory und Suite virtualization-assisted Funktionen, die mehrere Software-Komponenten auf einem Chip koexistieren lassen ohne Interferenz. Dies erfüllt stringente ISO 26262 ASIL D Anforderungen – höchsten Automotive Safety Integrity Level.
ASIL D Compliance Features
- Advanced Built-In Self-Test (BIST) System, inkl. Standby-Resume BIST (SR-BIST) während Power-Down Cycles für Fault Detection.
- Enhanced Networking: Gigabit Ethernet Interface für High-Speed Data Transfer von Sensor Payloads.
Renesas wird Testergebnisse in Session „A 28 nm 600 MHz Automotive Flash Microcontroller with Virtualization-Assisted Processor for Next-Generation Automotive Architecture Complying with ISO 26262 ASIL D“ auf International Solid-State Circuits Conference am 18. Februar 2019 präsentieren.
Aufbauend auf validierter Technologie plant Renesas beschleunigte Entwicklung neuer 28 nm Flash MCUs – bekräftigt Commitment zu Eco-Friendly, Autonomous Vehicles und sichererem, sichererem Fahrerlebnis.
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