Hyperstone zeigt Next-Gen SSD Controller & Health Monitoring auf Embedded World 2019
Flash-Controller-Spezialist Hyperstone stellt auf der Embedded World 2019 in Nürnberg seinen neuesten SSD-Controller und Health-Monitoring-Suite aus. Das Event beleuchtet Hyperstones umfassende Linie an NAND-Flash-Controllern und verwandten Technologien, inklusive der hySMART Health Monitoring Lösung.
Live Demo: Bit-Error-Visualisierung
Besucher erleben eine Live-Echtzeit-Demo, die Bit-Error-Events visualisiert, wie sie während SSD-Leseoperationen auftreten. Diese immersive Demonstration bietet Einblick in die internen Abläufe von 3D-NAND-Speicherlösungen.
Schlüsseltechnologien
- FlashXE eXtended Endurance – Patentiertes Feature, das Lebensdauer von Industrial-Grade NAND Flash maximiert.
- hyMap FTL (Flash Translation Layer) – Sub-Page-basierter Translation Layer, engineered um volles Potenzial von 3D Flash für anspruchsvolle Industrial Applications freizusetzen.
- hySMART Health Monitoring – Echtzeit-Health-Status-Lösung, die SSD-Performance trackt und Ausfälle vorhersagt.
Hyperstones Showcase liefert detaillierten technischen Überblick dieser Innovationen und demonstriert, wie sie höhere Endurance, Reliability und Performance in Next-Gen SSD Deployments ermöglichen.
Eingebettet
- ROHM präsentiert Cutting-Edge Power Management & Sensor Solutions auf Embedded World 2019
- Conrad stellt Unified Digital Platform auf Embedded World Nürnberg vor
- Avnet Silica zeigt Cutting-Edge KI, IoT und Connectivity Solutions auf Embedded World 2019
- Maxim Integrated zeigt Advanced Wearable Health, IoT und Security Solutions auf Embedded World
- Hyperstone X1 SSD Controller: Low-Power, Industrial-Grade 3D Flash Performance
- Apacer enthüllt Next-Gen High-Speed Storage für AIoT & IoT auf Embedded World 2019
- Renesas zeigt Cutting-Edge Endpoint Intelligence auf Embedded World 2019
- GIGAIPC IoT Innovations Showcase auf Embedded World 2019
- Cervoz Industrial Flash Module: Fallstudie zur SSD-Langlebigkeit in High-Endurance Drucksystemen
- Hyperstone stellt FlashXE Technologie vor – Erhöhte 3D NAND Zuverlässigkeit