Hyperstone stellt FlashXE Technologie vor – Erhöhte 3D NAND Zuverlässigkeit

Hyperstone hat FlashXE eXtended Endurance zusammen mit seinem neuesten X1 Low-Power SSD-Controller vorgestellt. FlashXE ist ein umfassendes Feature-Set, entwickelt um maximale Zuverlässigkeit von NAND-Flash-basiertem Speicher zu gewährleisten, indem es fortschrittliche Kalibrierung, Fehlerkorrektur-Wiederherstellung, proaktive Fehlervermeidung und Refresh-Mechanismen kombiniert.

Herausforderungen bei steigenden NAND-Dichten

Mit steigenden NAND-Flash-Dichten und 3D NAND als Industriestandard sinkt der Kosten-pro-Gigabyte, während die technischen Anforderungen an das Flash-Management exponentiell wachsen. Moderner Flash erfordert ausgeklügelte Algorithmen zur Verschleißverwaltung, zur Minderung von Datenkorruption und zur Aufrechterhaltung der Datenintegrität über die Produktlebensdauer.

FlashXE: Ganzheitlicher Ansatz

FlashXE adressiert diese Herausforderungen von Grund auf. Ein rigoroser Qualifizierungsprozess charakterisiert jeden unterstützten Flash-Typ über seinen Lebenszyklus und über Temperaturbereiche. Die resultierenden Daten werden in die Firmware des Controllers eingebettet und bilden ein solides Fundament für Langzeitzuverlässigkeit.

Laufzeit-Adaptation und Fehlervermeidung

Während des Betriebs passt der Controller kontinuierlich Auslese-Spannungspegel an, um alternden Flash-Zellen anzupassen. Er implementiert auch dynamisches Daten-Refresh, Near-Miss-ECC und Read-Disturb-Mitigation, um Fehler vor ihrem Auftreten zu verhindern.

Zweistufige Fehlerkorrektur

Treten Fehler auf, setzt FlashXE ein zweistufiges Fehlerkorrektursystem ein. Eine Stufe nutzt einen traditionellen BCH-Code, die zweite nutzt einen neuen verallgemeinerten verketteten Code, der Soft-Decoding für höhere Resilienz unterstützt.

Integriert in X1 Controller

FlashXE ist vollständig in Hyperstones X1 Controller integriert, einer Low-Power SSD-Lösung, entwickelt für robuste, industrielle NAND-Flash-Anwendungen.