Keysight stellt fortschrittliches N5511A Phase Noise Test System für Aerospace, Defense und 5G Design vor

Keysight Technologies hat das N5511A Phase Noise Test System gestartet, eine Next-Generation-Lösung für Ingenieure, die präzise Validierung von RF- und Mikrowellen-Geräten verlangen. Durch genaue Messung von Phasenrauschen – unerwünschter Phasenmodulation, die Performance in Oszillatoren, Mischern, Teilern, Multiplikatoren und Verstärkern degradiert – ermöglicht das System Teams in Aerospace, Defense und modernster Wireless-Kommunikation, Design zu optimieren, strenge operative Anforderungen zu erfüllen und Zeitplan und Budget einzuhalten.

Drei Frequenzbereiche

Das N5511A ist in drei Frequenzbereichen verfügbar – bis 3 GHz, 26,5 GHz oder 40 GHz – und deckt Offsets von 0,01 Hz bis 160 MHz ab. Es unterstützt Single- oder Dual-Channel-Betrieb und bietet eine Suite branchenführender Features:

• Flexible Architektur, die externe Low-Noise-Referenzquellen integriert, gibt Nutzern Freiheit, aus einem breiten Spektrum kommerziell verfügbarer Optionen zu wählen.
• Quadrature-Phase-Detektor-Technologie, die Dynamikbereich maximiert und konsistente Genauigkeit liefert.
• Best-in-Class absolute und Residual-Messungen an sowohl Continuous-Wave als auch Pulsed Signals, für zuverlässige Daten über diverse Test-Szenarien.
• Cross-Spectral Averaging (Cross-Correlation), um das fundamentale thermische Rauschen von kT (–177 dBm/Hz) anzunähern. Durch Eliminieren unkorrelierten Rauschens zwischen zwei Kanälen können Nutzer die wahre Performance ihres Device Under Test beobachten.

Kompaktes PXIe 4U Mainframe

Das System kombiniert ein Phase-Detektor-Modul und High-Precision Data-Conversion-Circuitry in einem custom Low-Noise PXIe 4U Mainframe, minimiert Rack-Footprint bei maximierter Performance. Software läuft auf einem integrierten PC-Controller, angetrieben von Windows 10, und bietet benutzerfreundliches Interface und robuste Datenanalyse-Tools.