NASA verbessert Blitzthermografie: Schneller, tiefer NDE mit Transienten- & Lock-In-Techniken

Forscher am NASA Johnson verbesserten ihre Blitzthermografie-Fähigkeiten, indem sie Transienten- und Lock-In-Thermografie in ihre Blitzthermografie-NDE-Technologie integrierten. Diese zerstörungsfreie Prüfung (ZfP)-Technologie identifiziert Fehler in Materialien, die in Flugzeugen, Drohnen und Gebäuden verwendet werden.

Durch Hinzufügen der Transienten-Thermografie-Methode, die Fehler an dickeren Teilen schneller detektiert als andere Methoden, und der Lock-In-Thermografie-Methode, die einen sinusförmigen Leistungskreislauf für bessere Fehlerauflösung nutzt, hat die Blitzthermografie-NDE-Technologie-Suite ihre Anwendbarkeit auf andere gängige Infrarot-Thermografie-Techniken erweitert.

Bei der Verwendung der Transienten- und Lock-In-Methoden zur Materialbewertung manifestieren sich Variationen in der thermischen Diffusivität des Materials als Anomalien im Infrarotbild (IR) der Prüfoberfläche. Beide Methoden werden speziell verwendet, um dickeres Material zu analysieren, als es mit Blitzthermografie allein möglich ist. Die Nachbearbeitung dieser rohen IR-Kameradaten liefert detaillierte Analysen der Größe und Charakterisierung von Anomalien.

Diese Technologie umfasst eine Software, die hochpräzise Messungen bietet.

Die Peak-Contrast- und Peak-Contrast-Zeitprofile, die durch dieses Tool generiert werden, bieten quantitative Interpretation der Bilder, einschließlich detaillierter Informationen über Größe und Form der Anomalien. Die Persistenzenergie- und Persistenzzeitprofile liefern hochsensible Daten für detektierte Anomalien. Peak-Contrast, Peak-Zeit, Persistenzzeit und Persistenzenergie-Messungen ermöglichen auch die Überwachung von Fehlerwachstum und Signalantwort auf Fehlergrößenanalyse.

Diese Technologie bietet umfassendere, detailliertere und genauere NDE-Detektion und -Charakterisierung von Untergrundfehlern in nichtmetallischen Verbundwerkstoffen als aktuelle Methoden. Diese vollständige Software-Suite normalisiert und kalibriert die Daten, was stabilere Messungen liefert und das Auftreten von Fehlern durch Bediener- und Kameravariabilität reduziert.

Die NASA sucht aktiv Lizenznehmer zur Kommerzialisierung dieser Technologie. Bitte kontaktieren Sie NASAs Licensing Concierge unter dieser E-Mail-Adresse (vor Spambots geschützt, JavaScript erforderlich) oder rufen Sie an unter 202-358-7432, um Lizenzgespräche zu initiieren. Folgen Sie diesem Link hier  für weitere Informationen.