N-Port-Messung optimieren: Multiport-VNAs vs. Switch-Matrizen

Viele Ingenieure verlassen sich auf externe Switch-Matrizen, um 2-Port-VNAs für Multi-Channel-Messungen zu erweitern – aber dieser Ansatz bringt Kompromisse bei Geschwindigkeit, Genauigkeit und Systemkomplexität mit sich. Zu verstehen, wann diese Kompromisse relevant sind, ist kritisch, da RF- und High-Speed-Digital-Systeme weiter skalieren.

Dieses 60-minütige Webinar bietet einen klaren, praktischen Vergleich zwischen geschalteten 2-Port- und echten Multiport-VNA-Messarchitekturen. Teilnehmer lernen, wie Sweep-Anzahl, Einfügungsdämpfung, Isolation und Kalibrierungskomplexität zwischen den Ansätzen differieren und wie diese Unterschiede reale Ergebnisse beeinflussen. Anhand repräsentativer Use Cases – einschließlich Kabelbäume, Beamforming-Arrays und Produktionstest von Multi-Channel-Geräten – hilft die Session Ingenieuren und Testteams, die geeignetste Strategie für ihre Messziele zu wählen.

Schwerpunktthemen:

• Limitierungen geschalteter 2-Port-Systeme
• Wie echte N-Port-Messungen durchgeführt werden
• Kalibrierungsstrategien für große Port-Anzahlen
• Implikationen für Engineering- und Produktionstests

Eine Publikums-Q&A-Session folgt der technischen Präsentation.

Referenten:

Brian Walker, Senior RF Engineer, Copper Mountain Technologies

Brian Walker ist Senior RF Engineer, SME, bei Copper Mountain Technologies. Er hilft Kunden bei der Lösung technischer Probleme und entwickelt neue Lösungen für VNA-Anwendungen in Test und Messung. Brian hat 40 Jahre RF-Design-Erfahrung. Zuvor war er Manager of RF Design bei Bird Electronics, wo er ein Team von RF-Designern leitete und neue, innovative Produkte schuf. Davor arbeitete er für die Motorola Component Products Group und war für das Design keramischer Kammfilter für Kommunikationsgeräte verantwortlich. Brian hat einen Abschluss der University of New Mexico und ist Senior Member des IEEE, Inhaber von drei US-Patenten.

Moderatorin:

Amanda Hosey, Editor, SAE Media Group